MV.C VNIR 機器視覺高光譜成像系統


MV.C VNIR 機器視覺高光譜成像系統是美國 Headwall 公司在收購荷蘭 perClas s公司后,結合自身多年在 Offner 高光譜成像儀設計制造技術優勢和 perClas s在高光譜機器學習算法和應用軟件開發優勢而研制的一套Turnkey機器視覺高光譜數據采集和分析平臺。


用MV.C VNIR 工作的光譜范圍為 400-1000nm ,340個光譜波段,1020 個空間像素,最?幀率可達到 300Hz 。MV.C VNIR 系統配備有?素燈光源的 perClass Stage 推掃平臺,安裝拆卸簡易,方便攜帶。用戶可根據不同應用場景,在實驗室快速搭建整套系統。通過配套的 perClass mira 數據采集和分析軟件,直接控制推掃平臺的移動和?光譜成像儀的數據采集操作。已采集的樣本數據可?便劃分為訓練集和測試集,利用 perClass mira 軟件中的光譜分類和回歸分析功能進行建模,生成的模型可直接用于數據的實時在線分析。

關于機器視覺高光譜技術的應用可點擊以下視頻了解:

高光譜實時分類技術在機器視覺中的應用與發展

https://www.bilibili.com/video/BV1yk4y1s7RM/?vd_source=c76589e1835a8fd6a8b6c0fcb5525585


主要特點:

       Turn-Key 解決方案,無需復雜的平臺搭建

       Headwall Offner 全息凸面反射光柵分光技術

       交互式模型訓練訓練軟件,無需專業背景知識

       兼容perClass Mira軟件,可直接控制硬件數據采集

      支持載入自定義模型,實時在線分類



基本參數:

光譜范圍 400-1000nm
空間像素數 1020
光譜通道數 340
光譜采樣率 1.75nm/pixel
數值孔徑 F/2.5
光學設計
Offner全息反射光柵分光,同軸反射式
位深
12bit
電控樣品臺 左右兩側光源,各100W
硬件接口 USB 3.1
軟件 perClass mira 數據采集和分析軟件
平臺尺? 700*432*761mm
樣品臺尺? 400*250mm
掃描速度 10mm/s~70mm/s
系統重量 ≤17kg
操作溫度 0至50℃
存儲溫度 -10 至 60℃




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