MV.C VNIR 機器視覺高光譜成像系統是美國 Headwall 公司在收購荷蘭 perClas s公司后,結合自身多年在 Offner 高光譜成像儀設計制造技術優勢和 perClas s在高光譜機器學習算法和應用軟件開發優勢而研制的一套Turnkey機器視覺高光譜數據采集和分析平臺。
用MV.C VNIR 工作的光譜范圍為 400-1000nm ,340個光譜波段,1020 個空間像素,最?幀率可達到 300Hz 。MV.C VNIR 系統配備有?素燈光源的 perClass Stage 推掃平臺,安裝拆卸簡易,方便攜帶。用戶可根據不同應用場景,在實驗室快速搭建整套系統。通過配套的 perClass mira 數據采集和分析軟件,直接控制推掃平臺的移動和?光譜成像儀的數據采集操作。已采集的樣本數據可?便劃分為訓練集和測試集,利用 perClass mira 軟件中的光譜分類和回歸分析功能進行建模,生成的模型可直接用于數據的實時在線分析。
關于機器視覺高光譜技術的應用可點擊以下視頻了解:
高光譜實時分類技術在機器視覺中的應用與發展
https://www.bilibili.com/video/BV1yk4y1s7RM/?vd_source=c76589e1835a8fd6a8b6c0fcb5525585
Turn-Key 解決方案,無需復雜的平臺搭建
Headwall Offner 全息凸面反射光柵分光技術
交互式模型訓練訓練軟件,無需專業背景知識
兼容perClass Mira軟件,可直接控制硬件數據采集
支持載入自定義模型,實時在線分類
光譜范圍 | 400-1000nm |
空間像素數 | 1020 |
光譜通道數 | 340 |
光譜采樣率 | 1.75nm/pixel |
數值孔徑 | F/2.5 |
光學設計 |
Offner全息反射光柵分光,同軸反射式 |
位深 |
12bit |
電控樣品臺 | 左右兩側光源,各100W |
硬件接口 | USB 3.1 |
軟件 | perClass mira 數據采集和分析軟件 |
平臺尺? | 700*432*761mm |
樣品臺尺? | 400*250mm |
掃描速度 | 10mm/s~70mm/s |
系統重量 | ≤17kg |
操作溫度 | 0至50℃ |
存儲溫度 | -10 至 60℃ |